 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
 |
 |
 |
 |
|
|||||
 |
 |
|
||||||||
 |
 |
 |
|
|||||||
 |
|
|||||||||
 |
 |
|
||||||||
| |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| |
|
|
|
|
|
|||||
| |
|
|
||||||||
| |
|
|
|
|||||||
| |
|
|||||||||
| |
|
|
||||||||
NOTIFICACIÓN DE PROPIEDAD:
LA INFORMACIÓN CONTENIDA EN ESTE DOCUMENTO ES PROPIEDAD DE CONDUCTORES ELÉCTRICOS QUINRO, S.A. DE C.V.
OBJETIVO: Establecer un método para determinar los espesores promedio y mínimo de las pantallas semiconductoras, aislamientos y cubiertas protectoras de conductores eléctricos.
ALCANCE: Pantallas semiconductoras, aislamientos y cubiertas protectoras de conductores eléctricos a base de materiales termoplásticos y termofijos.
NORMA DE REFERENCIA.
NMX-J-177-ANCE-1996 Determinación de espesores de pantallas semiconductoras, aislamientos y cubiertas de conductores eléctricos.
Para una correcta utilización de este procedimiento es necesario consultar y aplicar la siguiente Norma Oficial Mexicana vigente:
NOM-008-SCFI Sistema General de Unidades de Medida.
EQUIPOS Y/O INSTRUMENTOS EMPLEADOS.
Micrómetro de espesores de carátula analógica, montado en un dispositivo mecánico.
Comparador óptico digital con una resolución de 0,001 mm
INFORME DE RESULTADOS.
El informe de resultados debe contener como mínimo los siguientes datos, expresados conforme a lo establecido en la Norma Oficial Mexicana NOM-008-SCFI-1993.
Descripción del producto.
Instrumento de medición empleado.
Valor del espesor promedio.
Valor del espesor mínimo en un punto.
Observaciones y fecha de realización de la prueba.
El número de formato del Informe de Pruebas es: F 51210.06-1 1/1-00
Para mayor información llámenos al 2160-0995 o escribanos a laboratorioq@quinro.com.mx con atención al Ing. Rogelio Jaimes.